반도체 제조 공정에서 고속 회전물체의 비정상 상태 탐지 효율 향상을 위한 이미지 세그멘테이션 방법

Authors: 노기섭

Publisher: 국제문화기술진흥원 JCCT

Type: Dom. Journal

Indexed: KCI

Volume / Number: 12 / 1

Pages: 551 - 560

Date: 2026-01-31

URL: https://www.kci.go.kr/kciportal/ci/sereArticleSearch/ciSereArtiView.kci?sereArticleSearchBean.artiId=ART003301502

DOI: https://doi.org/https://www.kci.go.kr/kciportal/ci/sereArticleSearch/ciSereArtiView.kci?sereArticleSearchBean.artiId=ART003301502